高加速壽命試驗箱(Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗)是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
高加速壽命試驗HALT一詞是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。是一種利用階梯應力加諸于試品，并在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、操作設計邊際及結(jié)構(gòu)強度極限的方法。
試品通過HALT所暴露的缺陷，涉及線路設計、工藝、元部件和結(jié)構(gòu)等方面。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設計和試產(chǎn)階段，通過試驗，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進和驗證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅固性及可靠性。施加于試品的應力，包括振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。
HALT試驗所延伸出的設計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。
它將原需花費6個月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。
在產(chǎn)品研制階段，為得出產(chǎn)品設計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設計的一種試驗，它應用步進的方法給產(chǎn)品施加環(huán)境應力并檢測其性能，直到產(chǎn)品失效為止。
為提高試驗效率，所施應力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應力，通常為高變溫率(至少應大于25°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機振動，還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應力。高加速壽命試驗得到的應力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應力篩選的應力量值的依據(jù)。
目前能進行高加速壽命試驗的實驗室有環(huán)境可靠性與電磁兼容試驗服務中心、航天環(huán)境可靠性試驗與檢測中心等。
