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PCB中的CAF現(xiàn)象分析

  • 更新日期:2025-11-13      瀏覽次數(shù):540
    • PCB中的CAF現(xiàn)象分析

      作為各種元器件的載體與電路信號(hào)傳輸?shù)臉屑~PCB已經(jīng)成為電子信息產(chǎn)品的最為重要而關(guān)鍵的部分,其質(zhì)量的好壞與可靠性水平?jīng)Q定了整機(jī)設(shè)備的質(zhì)量與可靠性。但是由于成本以及技術(shù)的原因,PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題。

      什么是CAF

      導(dǎo)電陽(yáng)極絲測(cè)試(Conductive anodic filament test,簡(jiǎn)稱(chēng)CAF)是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹(shù)狀生長(zhǎng)的區(qū)別:

      1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;

      2.金屬絲是從陽(yáng)極往陰極生長(zhǎng)的;

      3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。

      焊盤(pán)中的銅金屬是金屬離子的主要來(lái)源,在陽(yáng)極電化學(xué)生成,并沿著樹(shù)脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動(dòng)。

      隨著時(shí)代發(fā)展和技術(shù)的革新,PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來(lái)越嚴(yán)重,究其原因,是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來(lái)越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來(lái)越短,這樣就更加容易在兩個(gè)金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。

      CAF的形成過(guò)程

      1、常規(guī)FR4 P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹(shù)脂半固化后制成;

      2、樹(shù)脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時(shí)親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;

      3、鉆孔等機(jī)械加工過(guò)程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對(duì)樹(shù)脂的粘合力進(jìn)一步破壞;

      4、距離較近的兩孔若電勢(shì)不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動(dòng)下逐漸向負(fù)極遷移。

      CAF的產(chǎn)生原因

      1.原料問(wèn)題

      (1) 樹(shù)脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳 ;

      (2) 玻纖束之表面有問(wèn)題,如耦合性不佳,親膠性不良 ;

      (3) 樹(shù)脂之硬化劑不良,容易吸水 ;

      (4) 膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實(shí)填飽 造成氣泡殘存。
         2、流程工藝問(wèn)題

      (1) 孔粗-鉆孔太過(guò)粗糙,造成玻纖束被拉松或分離而出現(xiàn)間隙;

      (2) 除膠渣-PCB制程之PTH中的除膠渣過(guò)度,或沉銅浸入玻纖束發(fā)生燈芯效應(yīng),過(guò)度的燈芯加上孔與孔相距太近時(shí),可能會(huì)使得其間板材的絕緣品質(zhì)變差加速產(chǎn)生CAF效應(yīng)。

      01 案例分析與問(wèn)題描述

      A客戶(hù)主板出貨6個(gè)月后,出現(xiàn)無(wú)法開(kāi)機(jī)現(xiàn)象。經(jīng)電測(cè)發(fā)現(xiàn)某BGA下面兩個(gè)VIA及其相連電路出現(xiàn)電壓異常(5V減小為3V),有漏電流現(xiàn)象,不良率在5%~10%PCB表面覆蓋藍(lán)色阻焊油墨,兩VIA孔(過(guò)孔)用藍(lán)色油墨塞孔。

      02 可能原因分析

      PCB中的CAF現(xiàn)象分析

      03 測(cè)試驗(yàn)證

      01 表面線(xiàn)路觀察

      PCB中的CAF現(xiàn)象分析

      光學(xué)顯微鏡觀察顯示,問(wèn)題VIA孔附近未發(fā)現(xiàn)明顯污染物殘留,背面相連電路表面未發(fā)現(xiàn)阻焊膜破損及殘銅等異常現(xiàn)象。

      02 失效區(qū)域阻抗測(cè)試

      首先對(duì)失效電路進(jìn)行絕緣阻抗測(cè)試(室溫環(huán)境),阻抗為2.25E+7Ω。阻抗偏低(通常絕緣體阻值>1.0E+08Ω)。

      根據(jù)相關(guān)文獻(xiàn),CAF通常發(fā)生在PCB密線(xiàn)區(qū)或密孔區(qū)的銅材間。一旦該區(qū)域出現(xiàn)水氣、電解質(zhì)、偏壓,與已存在的破壞絕緣之通道(指玻纖紗束或紗束與樹(shù)脂之細(xì)縫),則會(huì)發(fā)生兩導(dǎo)體間金屬銅的遷移。上述CAF產(chǎn)生條件中,水氣、電解質(zhì)、偏壓難以避免,“遷移的通道"則為管控重點(diǎn)??赏ㄟ^(guò)玻纖布良好的膠體填充以及合理的鉆孔參數(shù)得以避免。



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